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高壓開關(guān)(斷路器)特性測試儀名詞全解:從入門到精通,一文讀懂關(guān)鍵術(shù)語

發(fā)布時間:2025-08-27 11:10:23瀏覽次數(shù):35

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電纜故障測試儀-高壓開關(guān)特性測試儀-專注于電力試驗設(shè)備研發(fā)! 咨詢電話:130-3714-0838

高壓開關(guān)(在控制、保護電路中常稱為斷路器)特性測試儀是電力系統(tǒng)預(yù)防性試驗中不可或缺的重要設(shè)備,用于檢測斷路器、隔離開關(guān)等高壓開關(guān)的機械性能和電氣性能。為了幫助電力工作者、試驗工程師及相關(guān)采購人員更好地理解和使用該設(shè)備,武漢龍電電氣將對高壓開關(guān)特性測試儀涉及的核心名詞與測試功能進行系統(tǒng)性的解釋。

武漢龍電電氣專注高壓開關(guān)試驗設(shè)備研發(fā)

一、 基礎(chǔ)概念類

高壓開關(guān)/斷路器 (High Voltage Switchgear / Circuit Breaker)

解釋:本文中高壓開關(guān)與斷路器常指代同一主體設(shè)備。它是電力系統(tǒng)中最重要的控制和保護設(shè)備,能在正常或故障狀態(tài)下(如短路)可靠地接通、承載和分?jǐn)嚯娏鳌?/p>

高壓開關(guān)特性測試儀 (High Voltage Circuit Breaker Analyzer)

解釋:一種集成了現(xiàn)代測量技術(shù)、計算機技術(shù)和電子技術(shù)的專用儀器。它能對高壓開關(guān)的多種機械特性參數(shù)和電氣參數(shù)進行時間同步測量,并以數(shù)據(jù)、波形、圖表等形式呈現(xiàn),以評估開關(guān)的分合閘性能是否正常。

二、 時間參數(shù)類

合閘時間 (Closing Time)

解釋:從合閘操作線圈得電(或接收到合閘指令)的瞬間起,到開關(guān)動觸頭與靜觸頭第一次電氣接觸(即合閘)為止所經(jīng)歷的時間。

分閘時間 (Opening Time)

解釋:從分閘操作線圈得電(或接收到分閘指令)的瞬間起,到開關(guān)動觸頭與靜觸頭第一次分離(即分閘)為止所經(jīng)歷的時間。

合分時間 (Close-Open Time / O-CO Time)

解釋:在“合分”操作循環(huán)中,從合閘線圈得電開始,到分閘操作中動、靜觸頭第一次分離為止的時間間隔。該參數(shù)對評估斷路器的重合閘性能至關(guān)重要。

相同期 (Phase Synchronization)

解釋:指三相開關(guān)的三極間合閘或分閘時間的最大差值。包括合閘相同期和分閘相同期。同期性差會導(dǎo)致系統(tǒng)沖擊電流增大,影響系統(tǒng)穩(wěn)定。

同相不同期 (Intra-phase Synchronization)

解釋:針對每相有雙斷口或多斷口的開關(guān)(如SF6斷路器),指同一相內(nèi)多個并聯(lián)斷口間分合閘時間的最大差值。

三、 行程與速度參數(shù)類

觸頭行程 (Contact Travel)

解釋:開關(guān)操作過程中,動觸頭從分閘位置到合閘位置所走過的總位移。

接觸行程 (Contact Overtravel)

解釋:也稱超程。指開關(guān)合閘后,動、靜觸頭已經(jīng)接觸,但機構(gòu)仍會繼續(xù)推進一小段距離。這段距離保證了觸頭在電磨損后仍能保持可靠接觸壓力。

剛分速度 (Break Speed at Instant of Contact Separation)

解釋:動觸頭在分閘過程中,剛分離瞬間(通常是分離后2-4ms內(nèi))的平均速度。高速分閘能保證電弧快速熄滅。

剛合速度 (Make Speed at Instant of Contact Touch)

解釋:動觸頭在合閘過程中,即將接觸瞬間(通常是接觸前2-4ms內(nèi))的平均速度。足夠的剛合速度能減少預(yù)擊穿電弧對觸頭的燒蝕。

最大分閘速度 (Maximum Opening Speed)

解釋:分閘過程中動觸頭運動速度的最大瞬時值。

四、 電氣與機械狀態(tài)類

線圈電流 (Coil Current)

解釋:測試儀通過電流鉗測量到的分、合閘操作線圈的電流波形。通過分析該波形,可以判斷電磁鐵芯是否卡澀、線圈是否匝間短路、輔助觸點是否切換及時等問題。

分/合閘線圈 (Opening/Closing Coil)

解釋:開關(guān)操作機構(gòu)中,接收電信號并產(chǎn)生電磁力以驅(qū)動機械部件完成分閘或合閘操作的電磁線圈。

彈跳 (Bounce)

解釋:開關(guān)在合閘過程中,動、靜觸頭接觸后因碰撞而產(chǎn)生的連續(xù)多次短時間分離和再接觸的現(xiàn)象。過大的彈跳會加劇觸頭燒蝕甚至熔焊。合閘彈跳時間是衡量彈跳嚴(yán)重程度的重要參數(shù)。

分閘反彈 (Rebound)

解釋:開關(guān)在分閘過程結(jié)束時,動觸頭或機構(gòu)部件因撞擊緩沖器而產(chǎn)生的回彈現(xiàn)象。過大的反彈可能引起重擊穿。

金短時間 (Golden Time / Pre-arcing Time)

解釋:在合閘操作中,從動、靜觸頭第一次機械接觸到完全穩(wěn)定接觸不再分離的時間。此時間越短,說明合閘過程越穩(wěn)定,彈跳越小。

五、 高級測試功能類

斷口識別 (Contact Identification)

解釋:測試儀能夠自動識別并顯示哪一相或哪一個斷口先合上或先分開,從而方便工程師進行同期性分析和調(diào)試。

動態(tài)電阻測試 (Dynamic Resistance Measurement, DRM)

解釋:一種通過向斷口注入直流電流,并測量其在分/合閘過程中電阻動態(tài)變化的先進方法。能有效檢測滅弧室內(nèi)部觸頭的燒蝕程度、觸頭行程是否到位等隱性缺陷,是評估SF6斷路器健康狀態(tài)的關(guān)鍵手段。

合閘電阻測試 (Closing Resistance Test)

解釋:用于測量某些超高壓斷路器為限制合閘操作過電壓而并聯(lián)的合閘電阻的阻值及其投入時間。該電阻通常在主觸頭合閘前先接入電路,吸收能量,之后再由主觸頭短接。

重合閘測試 (Reclosing Test)

解釋:模擬電力線路發(fā)生瞬時故障時,斷路器按預(yù)設(shè)的“分-θ-合分”時序進行自動重合閘的操作測試。測試儀會精確測量無電流間隔時間(θ)、合分時間等參數(shù),驗證保護策略的正確性。

雙端接地測試 (Test with Two-end Grounding)

解釋:針對GIS(氣體絕緣開關(guān)設(shè)備)等無法在兩端直接接線的情況,采用一種特殊的測量方法(如脈沖電流法),通過接地回路來測試斷口信號,解決了GIS現(xiàn)場試驗的接線難題。

磨合試驗 (Aging Test / Burn-in Test)

解釋:對新安裝或大修后的斷路器,在投運前進行數(shù)十次至上百次的連續(xù)分合閘操作。目的是使機構(gòu)的運動部件充分磨合,去除毛刺,穩(wěn)定機械特性,并使觸頭表面形成良好的接觸面,確保投運后的可靠性。

低電壓試驗 (Low Voltage Operation Test)

解釋:在低于額定操作電壓的條件下對開關(guān)進行分合閘操作,以檢驗開關(guān)機構(gòu)在電網(wǎng)電壓波動時是否能可靠動作。

掌握以上名詞的含義及其對應(yīng)的測試功能,是正確使用高壓開關(guān)特性測試儀、精準(zhǔn)解讀測試報告、準(zhǔn)確判斷高壓開關(guān)健康狀態(tài)的基礎(chǔ)。

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